CT200N氧化膜測厚儀（CT200拓展型）
CT200N氧化膜測厚儀（CT200拓展型） 產(chǎn)品概述：
CT200升級版在開發(fā)過程中，增強了數(shù)據(jù)統(tǒng)計功能，數(shù)據(jù)存儲采用回環(huán)覆蓋方式，避免了新用戶使用時出現(xiàn)存儲器滿的異常。采用了磁性(CT200F)和渦流(CT200N)兩種測厚方法，即可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度
●更加方便的數(shù)據(jù)統(tǒng)計、增加存儲量
●任意界面測量
●新穎的界面布局
●簡潔、經(jīng)濟、實用
●增加了渦流功能測厚，實現(xiàn)一機兩用
●設有五個統(tǒng)計量：平均值（MEAN）、*大值（MAX）、*小值(MIN)、測試次數(shù)（NO.）
標準偏差（S.DEV）
●具有存貯功能：可存貯500個測量值
CT200N氧化膜測厚儀（CT200拓展型）技術(shù)參數(shù)：
測頭類型
CT200F
CT200N
工作原理
磁感應
電渦流
測量范圍
0~1250μm
0~1250μm，其中：銅上鍍鉻（0~40μm）
分辨力
0.1μm（0~50μm），1微米（＞50μm）
測量誤差
3%H＋1μm（H為測量范圍）
示值誤差
一點校準（μm）
±（3%H+1）
測試條件
*小曲率半徑（μm）
凸1.5
凸3
*小面積的直徑（μm）
Φ7
Φ5
基體臨界厚度（㎜）
0.5
0.3
工作電壓
3*1.5V
外形尺寸
155㎜*68㎜*27㎜
整機重量
230g
標準配置
主機、探頭（F或N）、基體（鐵或鋁）、標準片
CT200N氧化膜測厚儀（CT200拓展型）標準配置：
主機、探頭（F或N）、基體（鐵或鋁）、標準片、電池、隨機文件、儀器箱
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